Hohe Präzisions-weißes Licht-Interferometrie/vertikales Scannen-Interferometrie

Hohe Präzisions-weißes Licht-Interferometrie/vertikales Scannen-Interferometrie

Produktmemorandum:

Kombiniert mit Mikroskop und Interferometer, ist das weißes Licht-Interferometer, mit Maß 3D der Höhe des vertikalen Scannens von 400um, für Entwurfs- und Profilmaß von verschiedenen Materialien und von Mikrokomponenten passend. Dieses Instrument benötigt nicht das Programm, das durch komplexes Licht geändert wird. Es ist in der Glaslinse, in der Oberfläche des Beschichtungsfilmes, in der Oblate, in der Scheibe, in MEMS (elektrisches mechanisches Mikrosystem), in flachem LCD, in PWB der hohen Dichte weit verbreitet, in verpackendem IC, in der Materialverbrauchsanalyse, in der Mikrooberflächenforschung, in etc.
 

Eigenschaften:

1. Maß 3D für Nanoskalagegenstand.
2. Hochgeschwindigkeits- und berührungsfrei.
3. Analyse der Oberfläche, des Profils und der Rauheit.
4. transparente oder undurchsichtige Materialien verfügbar.
5. Nicht-Elektronstrahl und Maß der Sicherheit Nichtlaser.
6. preiswerte Wartung.

Berufs-Grafik 3D, die Software (Posten Topo) verarbeitet und analysiert:
1. benutzerfreundliche Menschlichcomputerschnittstelle.
2. Selbst-Kalibrierung für modernen Standardfilm.
3. ist lineare Analyse oder regionale Analyse verfügbar, wenn sie Tiefe und Höhe analysieren.
4. ist lineare Analyse in der Rauheit oder in Welligkeit verfügbar, die durch ISO definiert werden.
5. 17 messende Spezifikationen und 4 zusätzliche messende Daten verfügbar.
6. ist regionale Analyse in der grafischen Analyse oder in der Statistikanalyse verfügbar.
7. mögen 2D schnelle Fourier-Transformation (FFT), das Eigenschaft verarbeitet, das Glatt machen, das Schärfen und digitale Filtrationswelle.
8. gab Analyseergebnis in mehrfache Bilddateien wie BMP oder in Excel-Format durch das Interferometer aus, das Software, ImgScan analysiert.

Hochgeschwindigkeits- und hohe Präzision Störungs-Analyse-Software (ImgScan):

1. Die Hardware des Systems ist mit ImgScan-Aufbereitungs-Software konfiguriert, Weißlichtfranse automatisch zu analysieren.
2. ist Vertikalenhöhe bis zu 0.1nm.
3. Hochgeschwindigkeitsdatenverarbeitungsund analysierende Software.
4. Die Einrichtung des vertikalen Abtastbereichs ist einfach und einfach.
5. ist Linse in 10X, in 20X oder in 50X verfügbar.
6. Ziffernanzeige von x-, y- und z-Achse, die gemessenen Gegenstand schneller und bequemer zu ermitteln macht.
7. ist manuelle automatische Helligkeit verfügbar, den besten Vergleich der Weißlichtfranse zu erwerben.
8. verfügbar im Scannenmaßmodus der hohen Präzision PVSI oder im Hochgeschwindigkeits-VSI-Scannenmaßmodus.
9. ist Patented Software analysierend für das Messen des Profils 3D des halb-transparenten Gegenstandes passend.
10. Autoreparaturpunkt.
11. kann Suchrichtung vom Benutzer eingestellt werden.

Spezifikationen: